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磁導率的測量是間接測量，測出磁心上繞組線(xiàn)圈的電感量，再用公式計算出磁芯材料的磁導率。所以，磁導率的測試儀器就是電感測試儀。在此強調指出，有些簡(jiǎn)易的電感測試儀器，測試頻率不能調，而且測試電壓也不能調。例如某些電橋，測試頻率為100Hz或1kHz，測試電壓為0.3V，給出的這個(gè)0.3V并不是電感線(xiàn)圈兩端的電壓，而是信號發(fā)生器產(chǎn)生的電壓。至于被測線(xiàn)圈兩端的電壓是個(gè)未知數。如果用高檔的儀器測量電感，例如 Agilent 4284A 精密LCR測試儀，不但測試頻率可調，而且被測電感線(xiàn)圈兩端的電壓及磁化電流都是可調的。了解測試儀器的這些功能，對磁導率的正確測量是大有幫助的。

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對于內徑較小的環(huán)型磁心，內徑不如壁厚容易測量，所以用(4)式比較方便。(4)式與(3)式是等效的，它們的由來(lái)是把環(huán)的平均磁路長(cháng)度當成了磁心的磁路長(cháng)度。用它們計算出來(lái)的磁導率稱(chēng)為材料的環(huán)磁導率。有人說(shuō)用環(huán)型樣品測量出來(lái)的磁導率就叫環(huán)磁導率，這種說(shuō)法是不正確的。實(shí)際上，環(huán)磁導率比材料的真實(shí)磁導率要偏高一些，且樣環(huán)的壁越厚，誤差越大。

對于樣環(huán)來(lái)說(shuō)，在相同安匝數磁動(dòng)勢激勵下，磁化場(chǎng)在徑向方向上是不均勻的。越靠近環(huán)壁的外側面，磁場(chǎng)就越弱。在樣環(huán)各處磁導率μ不變的條件下，越靠近環(huán)壁的外側，環(huán)的磁通密度B就越低。為了消除這種不均勻磁化對測量的影響，我們把樣環(huán)看成是由無(wú)窮多個(gè)半徑為r，壁厚無(wú)限薄為dr的薄壁環(huán)組成。根據(1)式，可寫(xiě)出每個(gè)薄壁環(huán)產(chǎn)生的電感dL為:

2.2.1測試電壓U較低的情況

如前所述，對于高檔儀器，如Agilent 4284A精密LCR 測試儀，它的測試電壓可以調得極低，以至于測試磁場(chǎng)強度隨匝數的變化達到時(shí)，仍然沒(méi)有超出磁導率的起始區。這時(shí)測得的總是材料的起始磁導率μi，它與測試線(xiàn)圈匝數N無(wú)關(guān)。用同一臺儀器，如果把測試電壓調得比較高，不能再保證不同匝數測得的磁導率都是起始磁導率，這時(shí)所測得的磁導率又會(huì )與測試線(xiàn)圈匝數有關(guān)了。